Die neuen und innovativen MTC-5 Mehrfach-Kalibrierstandards sind hergestellt aus ultraflachem Siliziumträger mit korrosionsbeständigen Chromlinien. Die präzisen Linien werden unter Verwendung modernster Halbleiter-Herstellungstechniken gefertigt. Die MTC-5 Mehrfach-Kalibrierstandards liefern einen glänzenden, ergiebigen Kontrast für einfache Kalibrierung. Sie sind gedacht für Auflichtmikroskope, Systeme zur Qualitätskontrolle und REM mit niedriger Vergrößerung zur:
Die vier Muster des MTC-5 Kalibrierstandards sind:
Die aufgedampften Chromlinien liegen in der gleichen Fokussierebene wie das Substrat. Sie sind schärfer begrenzt und liefern ein besseres Signal als geätzte Muster. Sie sind zudem weniger anfällig gegenüber Staubpartikeln im Muster.
Jedem Kalibrierstandard wurde eine individuelle Seriennummer eingeätzt. Die MTC-5 Mehrfach-Kalibrierstandards sind NIST nachverfolgbar und werden mit Wafer-Level Zertifikat zur Nachverfolgung geliefert. Wir bieten an:
Trägerplatte | 525 µm dicker, mit Bor dotierter ultraflacher Wafer mit <100> Orientation |
Leitfähigkeit | Sehr gut; 5-10 Ohm Widerstand |
Muster | Kreise, Quadrate, Sechsecke, Kreuzskale |
Mustergröße | 5 x 5 mm (4x) |
Linien | 75 nm dick, klare, helle Chromlinien |
Muster Kreuzskale | 1 µm breite Linien, 5 x 5 mm und 0,002 mm Einteilungen |
Gesamtgröße | 12 x 12 mm |
Applikationen | Auflichtmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie, optische Bildgewinnungssysteme |
Identifikation | Artikelnummer und Seriennummer eingeätzt |
Befestigung | Nicht montiert, optional auch montiert erhältlich |
Auslieferung | Auslieferung in Gel-Pak Box |
|