Die EM-Tec CXS und RSX Kalibrier- und Referenzstandards wurden für Kalibrierung, Auflösungs- und Leistungstests entwickelt. Jeder Standard beinhaltet eine Auswahl an Referenzmaterialien in Form von Elementen oder Verbindungen, welche für spezifische Kalibrieraufgaben optimiert wurden. Diese Standards sind erhältlich auf Stiftprobenteller oder Edelstahl Scheibe:
Die Elemente/Verbindungen sind alle mit einem vakuumkompatiblen Epoxidharz auf die Halter aufgeklebt. Die Halter sind danach präzisions-poliert worden, um sicherzustellen, dass alle Elemente/Verbindungen in einer planen Ebene liegen. Fast alle Standards sind mit einer Faradaykäfig ausgestattet, um auch eine Strahlstrommessungen und zu ermöglichen. Um die Leitfähigkeit sicherzustellen und Aufladungen zu verhindern sind Kalibrierstandards mit elektrisch nichtleitenden Elementen/Verbindungen kohlebeschichtet. Die Stiftprobenteller sind kompatibel mit Aufnahmen von TFS, FEI, Philips, Zeiss, LEO, TESCAN, Phenom, Leica, Cambridge Instruments und CamScan REM.Zur Nutzung der EM-Tec Kalibrierstandards auf JEOL und Hitachi REM bieten wir passende EM-Tec Probenteller-Adapter.
Die EM-Tec CSX und RSX Kalibrier- und Referenzstandards sind vorgesehen für das Kalibrieren und Testen von:
- REM / EDX-Systemen und/ oder REM / WDX-Systemen
- REM Back Scattered Electron (BSE) Detektoren (für Materialkontraste)
- Quantitative EDX analyse
- REM / GSR (Gun shot residue) Analyse
- Elektronenstrahlmikroanalyse (ESMA) Systeme
- REM / Partikel Analyse Systemen
- REM Kathodolumineszenz (KL) Detektoren
- REM / Raman Systemen
- REM / Mikro-RFA (XRF)-Systemen
- Mikro-RFA (XRF)-Systemen
Artikelnr. |
Art |
Beschreibung der Anwendung |
Standards # |
F.-Käfig |
Große |
CXS-3C |
EDX-Detektor Kalibrierung/Auflösung |
3 |
Neie |
Ø12.7mm x pin |
|
CXS-5F |
Leichte Elemente, EDX-Detektor |
5 |
Ja |
Ø12.7mm x pin |
|
CXS-5F-T |
RUCKVERVOLGBAR, Leichte Elelemente, EDX |
5-T |
Ja |
Ø12.7mm x pin |
|
CXS-5C |
Leichte Elemente, EDX-Detektor, Image |
5 |
Nein-Grid |
Ø12.7mm x pin |
|
CXS-5C-T |
RUCKVERVOLGBAR, Leichte Elelemente, EDX |
5-T |
Nein-Grid |
Ø12.7mm x pin |
|
CXS-5N |
Leichte Elemente, EDX-Detektor |
5 |
Ja |
Ø12.7mm x pin |
|
CXS-5LE |
Leichte Elemente Detektionsleistung |
5 |
Ja |
Ø12.7mm x pin |
|
CXS-5BE |
BSD, EDS Detector |
5 |
Ja |
Ø12.7mm x pin |
|
CXS-6BE |
BSD, EDS Detector |
6 |
Ja |
Ø12.7mm x pin |
|
CXS-10BE |
BSD, EDS Detector, schwerere Elemente |
10 |
Ja |
Ø12.7mm x pin |
|
CXS-10BEC2 |
BSD, EDS Detector, leichtere Elemente |
10 |
Ja |
Ø12.7mm x pin |
|
CXS-5TX |
EDAX TEX Setup |
5 |
Ja |
Ø12.7mm x pin |
|
CXS-5LX |
EDAX LEX / TEX Setup |
5 |
Ja |
Ø12.7mm x pin |
|
CXS-6F |
EDS Detector & performance |
6 |
Ja |
Ø12.7mm x pin |
|
CXS-6LE |
Leichte Elemente, EDX-Detektor |
6 |
Ja |
Ø12.7mm x pin |
|
CXS-10GSR |
GSR Analyse, EDS Detektor |
10 |
Ja |
Ø12.7mm x pin |
|
RXS-18RE |
Seltene Erden Referenz |
18 |
Ja |
Ø25.4 x 9mm |
|
RXS-21RE |
Seltene Erden Referenz |
21 |
Ja |
Ø25.4 x 9mm |
|
RXS-36M |
Metallreferenz |
36 |
Ja |
Ø25.4 x 9mm |
|
RXS-36MC |
Minerialien & Metallen-Referenz |
36 |
Ja |
Ø25.4 x 9mm |
|
RXS-40MC |
Minerialien & Verbundwerkstoff-Referenz |
40 |
Ja |
Ø25.4mm x pin |
|
RXS-40MM |
Minerialien & Metallen-Referenz |
40 |
Ja |
Ø25.4mm x pin |
|
RXS-40M+CL |
Minerialien & Kathodolumineszenz Referenz |
40 |
Ja |
Ø25.4mm x pin |
|
RXS-6AC |
Quantitative EDX analyse Au-Cu |
6 |
No |
Ø12.7mm x pin |
|
RXS-6AA |
Quantitative EDX analyse Au-Ag |
6 |
No |
Ø12.7mm x pin |
|
RXS-7CL |
Kathodolumineszenz Referenz |
7 |
Ja |
Ø12.7mm x pin |
|
RXS-10PD |
Peak-Entfaltung, Auflösungstest |
10 |
Ja |
Ø12.7mm x pin |
|
RXS-10RA |
Raman Leistung |
10 |
Ja |
Ø12.7mm x pin |
|
RXC-2WSi |
Schmelzen, BSE-/Röntgenkontrast & -auflösung |
2 |
No |
Ø12.7mm x pin |
|
RXC-2TaSi |
Schmelzen, BSE-/Röntgenkontrast & -auflösung |
2 |
No |
Ø12.7mm x pin |
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